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薄膜厚度測(cè)量?jī)x又叫膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、膜厚計(jì)或者鍍層測(cè)厚儀（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等），以及非磁性金屬基...

優(yōu)尼康科技有限公司自2012年成立，一直專注于薄膜厚度與表面輪廓測(cè)量領(lǐng)域，為半導(dǎo)體、面板、LED、消費(fèi)電子、生物醫(yī)療等高科技企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供精密測(cè)量設(shè)備與解決方案。本次講座，優(yōu)尼康將邀請(qǐng)多位行業(yè)，結(jié)合各行業(yè)應(yīng)用案例，與您探討在微納級(jí)...

XRF手持式合金分析儀可以使用低功率X射線管分析合金元素。發(fā)射的x射線和返回的x射線都是低功率的，測(cè)量時(shí)必須使手持式合金分析儀接近樣品。理想的是使樣品進(jìn)行直接通過接觸手持式合金分析儀的測(cè)量窗。如果樣品具有復(fù)雜的幾何形狀，則難以檢查，但手持式...

XRF鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量誤差原因請(qǐng)看下面分析X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知...

手持式合金分析儀由于具有分析快速、制樣簡(jiǎn)單，度高、對(duì)環(huán)境無(wú)污染等優(yōu)點(diǎn)，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，成為理化檢驗(yàn)*的設(shè)備。手持式合金分析儀的發(fā)展歷史較長(zhǎng)，是隨科技的，進(jìn)行了無(wú)數(shù)次的改進(jìn)，其硬件及軟件由初的單純定性發(fā)展直至今天的的定量分析。然而，在...

手持式合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域*的快速成份鑒定工具。手持式合金分析儀具有以下特點(diǎn)：1、無(wú)損檢測(cè)：與破壞性檢測(cè)方...